ときどき、MCU の開発中にハングアップ関連の問題が発生することがあります。 つぎの問題を確認することで、問題がどこにあるかを把握するのに役立つ場合があります。
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クロック
MCU システムクロックまたは他のモジュール（タイマや ADC など）が存在し、そのロジック動作を保証するために適切に機能しているかどうかを確認します。 最も簡単な方法は、クロックを関連するGPIO ピンに切り替え、デジタルオシロスコープを使用して測定することです。 -
電源電圧
電源電圧や MCU 内部の安定化電圧に予期しない電圧降下やスパイクがないことを確認してください。これを行うための最良の方法は、予期しない電圧の過渡現象を検出するのに十分な帯域幅を持つ デジタル・オシロスコープ を使用することです。 -
ソフトウェア
ソフトウェアアプリケーションで、ソフトウェアループが特定のフラグの MCU ポーリングを要求していないか、入力信号を待機していないかを確認します。 たとえば、ADC ループが外部センサ入力からの指定されたしきい値のみを待機している場合、この外部センサが期待どおりに機能しないため、MCU がハングすることがあります。 -
消費電流
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MCU の消費電流が低電力モードの電流に比べて非常に小さい場合、MCU はスリープモードになっていて動作しないことがあります。この場合、クロックや入力関連の誤動作により、いくつかの割り込みがトリガに失敗しています。
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MCU の消費電流が予想外に大きい場合、物理的な損傷により MCU が異常に動作していたり、ラッチアップ現象が発生していたりする可能性があります。 このような場合、電源を入れ直すと、恒久的な損傷とラッチアップの問題を区別するのに役立ちます。