1. 前言(Introduction)
在本系列的 第一部分 中,我們已推導出功率 MOSFET 在 Turn-ON 與 Turn-OFF 過程中的切換時間區間公式,這些時間參數構成了硬切換(Hard Switching)應用中切換功率損耗計算的基礎。
然而,實際套用這些方程式時,工程師很快會發現一個關鍵問題:
多項關鍵參數高度依賴實際工作條件(電壓、電流),而資料表未必提供對應條件下的數值。
特別是以下參數:
- 閘極平台電壓(Gate Plateau Voltage)
- 反向轉移電容(Reverse Transfer Capacitance, Crss)
- 輸出電容(Output Capacitance, Coss)
往往只在特定測試條件下提供。
因此,本應用筆記(第二部分)的目的在於:
- 提供一套實務可行的方法,利用常見的 MOSFET Datasheet 資訊,估算上述關鍵參數,
- 在缺乏完整 SPICE model 的情況下,仍能進行一致且有意義的元件切換特性比較。
需特別說明的是:
本文方法適用於元件層級比較與設計初期選型。若目標是系統層級的損耗預估或最差狀況分析,仍建議使用經驗證的 SPICE 模型進行時域模擬。
1.1 MOSFET 導通 Turn-ON 與 關斷 Turn-OFF 時間間隔定義
根據第一部分的推導,MOSFET 在 Turn-ON 過程可分為以下三個時間間隔:
Turn-OFF 時間間隔則為:
其中,\tau=R_{G}(C_{GS}+C_{GD})
相關參數定義
- R_G:總閘極電阻(內部 + 外部)
- C_{GS}:寄生閘源電容
- C_{GD}:寄生閘汲電容
- R_{DS_{(ON)}}:完全導通時的汲源電阻
- V_{th}:閘極臨界電壓
- V_{gp-ON}:導通停滯轉換期間的電壓
- V_{gp-OFF}:關斷停滯轉換期間的電壓
- V_{GG}:驅動器閘極電壓
- V_{DD}:汲極電源電壓
- I_0:負載電流
上述方程式假設一個具有感性負載及理想續流二極體的 低側驅動(Low‑Side Driver) 電路架構。
圖 2. 低側驅動器範例電路
2. 關鍵參數的實務估算方法
2.1 Turn-ON / Turn-OFF 閘極停滯期間的電壓估算
從方程式可看出,停滯期間的電壓(Plateau Voltage) 對切換時間估算影響極大。然而:
- 停滯期間的電壓並無標準測試條件
- 規格書上的數值通常僅對應單一工作點
一般可以從 Gate Charge 圖中讀取停滯期間的電壓作為近似值 (如圖 3),但此數值未必適用於當前設計條件。
根據文獻 [1],停滯期間的電壓甚至在 Turn-ON 與 Turn-OFF 過程中可能不同,其可近似為:
其中, g_m 可由傳遞特性 Transfer Characteristics 曲線線性區段斜率取得 (如圖 4)。 這兩組方程式可讓不同廠商、不同測試條件下的 MOSFET 被拉回至一致的參考基準點,有利於切換特性比較。
2.2 反向轉移電容 (C_{rss})
在第一部分中已指出,C_{GD} 是影響切換時間的關鍵參數。
方法一: 使用柵極漏電荷 Gate‑Drain Charge Q_{GD}
反向轉移電容 C_{rss} 等於 C_{GD} ( C_{GD} 是方程式 3 和 5 的主要參數)。 C_{GD} 可以透過規格書動態特性 dynamic characteristic 表中的柵極漏電荷 Q_{GD} 獲得,從而可以應用以下方程式:
注意: C_{GD} 為非線性電容,同時受 V_{GS} 與 V_{DS} 偏壓影響 (圖 5)。
方法二:使用 C_{rss} 小訊號電容曲線(推薦使用)
另一種測量此電容的方法是採用標準方法[3],該方法使用相同的測量條件,從而使元件比較更加可靠。圖 6 所示的電容特性曲線是透過掃描 V_{DS} 偏壓,並加入小訊號高頻幹擾(即圖 6 中的電容為小訊號電容)而得到的。值得注意的是,在特性分析過程中,業界標準是 V_{GS}=0V。這使得不同廠商之資料具備高度一致性,非常適合元件間比較。
圖 6:規格書中 MOSFET 小訊號電容範例圖
從該圖中,我們可以讀取與所需電壓 V_{DS} 對應的 C_{rss}=C_{GD} 值,並將其用於時間間隔計算。這是一種有效的方法,足以用於比較。
方法三: 尋找在目標 V_{DS} 下的非線性電容器上的電荷相關的等效線性電容器值
此替代方法的核心概念為:
將非線性 C_{GD} 電容在目標 V_{DS} 下所儲存的總電荷,轉換為一個在相同電壓擺幅下的等效線性電容值。
為此,需要提取 C_{rss} 電容特性曲線中的所有點,並使用文獻 [2] 中的方法模擬非線性電容器的電荷曲線及其電壓。然後應用方程式 (9) 計算 C_{GD}。 方法二和方法三使我們能夠比較所有使用相同 V_{DS} 和 V_{GS} 偏壓條件的 MOSFET 的 C_{GD} 值。
如果分析目標只是比較元件效能,那麼最後這個模擬方法可以被視為不必要的額外步驟。然而,如圖 7 所示,此模擬方法可以更完整地描述非線性電容器的特性。
2.3 輸出電容 (C_{oss})
一旦定義了 C_{GD} ,就可以用相同的方法定義 C_{DS}。與 C_{rss} 類似,輸出電容 C_{oss} 的定義如圖 6 所示。採用成熟的測量方法可以帶來優勢,使得不同供應商之間的條件相似且具有可比性。
C_{DS} 的值可透過以下減法計算得出:
其中,如上所述,C_{oss} 可直接從小訊號非線性電容圖(圖 5)中讀取,或可從該特性曲線中提取點,以模擬關於漏電源電壓的非線性電荷曲線 [2] 並使用:
2.4 閘極閾值電壓 (V_{th})
本應用筆記直接採用規格書中定義的典型閾值電壓。
另外,廠商通常使用相同的條件(即 V_{DS}=V_{GS}, I_D=250 \mu A )來測量此參數,這使比較更容易(圖 8)。
圖 8. 典型閘閾值資料表
3. 計算與模擬範例
3.1 範例電路條件
- V_{GG} = 10 V
- V_{DD} = 75 V
- I_{O} = 15 A
- R_{g_{ext}} =10Ω
以下將使用 MCC 的功率 MOSFET MCAC15N15Y,以及兩款電氣特性相近的產品競爭者 (Competitor A 和 Competitor B) 的 MOSFET分析 (表 1 和表 2)
表 1:計算 MCAC15N15Y 相關的電氣參數
| Parameter | Symbol | MCAC15N15Y | Conditions |
|---|---|---|---|
| Drain-Source Maximum Voltage | V_{DS} | 150V | V_{GS}=0V, I_D=250\mu A |
| Gate-Threshold Voltage | V_{GS{(th)}} | 2V to 4V | V_{DS}=V_{GS}, I_D=250\mu A |
| Drain-Source On-Resistance | R_{DS_{(on)}} | 52mΩ (typ) 70mΩ (max) | V_{GS}=10V, I_D=15A |
| Internal Gate Resistance | R_{gint} | 1Ω | f=1 MHz, Open drain |
| Gate-Drain Charge | Q_{GD} | 4nC | V_{DS}=75V, V_{GS}=10V, I_D=15A |
| Plateau-Voltage | V_p | 4.9V | V_{DS}=75V, I_D=15A |
| Input Capacitance | C_{iss}=C_{GS}+C_{GD} | 749.9pF | V_{DS}=30V, V_{GS}=0V, f=1 MHz |
| Output Capacitance | C_{iss}=C_{DS}+C_{GD} | 301.1pF | V_{DS}=30V, V_{GS}=0V, f=1 MHz |
| Reverse Transfer Capacitance | C_{rss}=C_{GD} | 27.3pF | V_{DS}=30V, V_{GS}=0V, f=1 MHz |
表 2:計算產品競爭者相關的電氣參數
| Symbol | Competitor A | Conditions | Competitor B | Conditions |
|---|---|---|---|---|
| V_{DS} | 200V | V_{GS}=0V, I_D=250\mu A | 150V | V_{GS}=0V, I_D=250\mu A |
| V_{GS(th)} | 2V to 4V | V_{DS}=V_{GS}, I_D=1mA | 2V to 4V | V_{DS}=V_{GS}, I_D=35 \mu A |
| r_{DS_{(on)}} | 86mΩ (typ) 102mΩ (max) | V_{GS}=10V, I_D=12A | 42mΩ (typ) 52mΩ (max) | V_{GS}=10V, I_D=18A |
| R_{gint} | 1.1Ω | f=1 MHz | 2.1Ω | f=1 MHz |
| Q_{GD} | 10.1nC | V_{DS}=100V, V_{GS}=10V, I_D=12A | 1.5nC | V_{DS}=75V, V_{GS}=10V, I_D=9A |
| V_p | 4.5V | V_{DS}=100V, I_D=12A | 5.2V | V_{DS}=75V, I_D=9A |
| C_{iss}=C_{GS}+C_{GD} | 1568pF | V_{DS}=30V, V_{GS}=0V, f=1 MHz | 670pF | V_{DS}=75V, V_{GS}=0V, f=1 MHz |
| C_{oss}=C_{DS}+C_{GD} | 170pF | V_{DS}=30V, V_{GS}=0V, f=1 MHz | 80pF | V_{DS}=75V, V_{GS}=0V, f=1 MHz |
| C_{rss}=C_{GD} | 55pF | V_{DS}=30V, V_{GS}=0V, f=1 MHz | 3.4pF | V_{DS}=75V, V_{GS}=0V, f=1 MHz |
3.2 LTspice 模擬測量結果作為參考
使用 MCAC15N15Y 和 Competition A、B 的 SPICE 模型進行了模擬測量,定義:
- t_{ON}=t_{{21}_{ON}}+t_{{32}_{ON}}
- t_{OFF}=t_{{21}_{OFF}}+t_{{32}_{OFF}}
模擬測量結果顯示,MCAC15N15Y 在 Turn-ON 與 Turn-OFF 均具備 明顯的切換速度優勢。
[/wrap]
表 3:透過模擬測量所獲得的 Turn-ON 和 Turn-OFF 時間。
| MCAC15N15Y | Competitor A | Competitor B | \Delta MCC - A | \Delta MCC - B | |
|---|---|---|---|---|---|
| t_{ON}=t_{{21}_{ON}}+t_{{32}_{ON}} | 8.68ns | 18.40ns | 5.46ns | -9.72ns | 3.22ns |
| t_{OFF}=t_{{21}_{OFF}}+t_{{32}_{OFF}} | 12.43ns | 23.00ns | 5.91ns | -10.57ns | 6.52ns |
圖 9. MCAC15N15Y 模擬 Turn-on 時間(綠色表示 I_0,深藍色表示 V_{DS},淺藍色表示 V_{GG} )
圖 10. MCAC15N15Y 模擬 Turn-off 閉時間(綠色為 I_0,深藍色為 V_{DS},淺藍色為 V_{GG} )
3.3 使用規格書上参數直接計算的結果
表 1 和表 2 所示的資料表参數被用來計算表 4 中的結果。
表 4:使用規格書上参數的計算結果
| MCAC15N15Y | Competitor A | Competitor B | \Delta MCC - A | \Delta MCC - B | |
|---|---|---|---|---|---|
| t_{{10}_{ON}} | 2.94ns | 6.26ns | 2.91ns | ||
| t_{{21}_{ON}} | 2.61ns | 4.24ns | 3.08ns | ||
| t_{{32}_{ON}} | 4.37ns | 8.26ns | 2.02ns | ||
| t_{ON}=t_{{21}_{ON}}+t_{{32}_{ON}} | 6.98ns | 12.49ns | 5.1ns | -5.51ns | 1.88ns |
| t_{{10}_{OFF}} | 5.89ns | 14.02ns | 5.33ns | ||
| t_{{21}_{OFF}} | 4.55ns | 10.09ns | 1.87ns | ||
| t_{{32}_{OFF}} | 4.05ns | 7.12ns | 4.48ns | ||
| t_{OFF}=t_{{21}_{OFF}}+t_{{32}_{OFF}} | 8.60ns | 17.21ns | 6.35ns | -8.61ns | 2.25ns |
3.4 使用停滯期間的電壓模型的進階計算
導入第 2.1 節的停滯期間的電壓估算模型後:
- 計算結果更接近 SPICE 模擬
- Delta (差值)準確度進一步提升
表 5:使用停滯期間的電壓模型(第 2.1 節)的計算結果
| MCAC15N15Y | Competitor A | Competitor B | \Delta MCC - A | \Delta MCC - B | |
|---|---|---|---|---|---|
| t_{{10}_{ON}} | 2.94ns | 6.33ns | 2.91ns | ||
| t_{{21}_{ON}} | 1.22ns | 1.35ns | 1.80ns | ||
| t_{{32}_{ON}} | 3.69ns | 7.00ns | 1.73ns | ||
| t_{ON}=t_{{21}_{ON}}+t_{{32}_{ON}} | 4.91ns | 8.35ns | 3.52ns | -3.44ns | 1.39ns |
| t_{{10}_{OFF}} | 8.60ns | 18.78ns | 8.99ns | ||
| t_{{21}_{OFF}} | 6.32ns | 13.23ns | 2.92ns | ||
| t_{{32}_{OFF}} | 1.33ns | 2.36ns | 0.82ns | ||
| t_{OFF}=t_{{21}_{OFF}}+t_{{32}_{OFF}} | 7.65ns | 15.59ns | 3.75ns | -7.94ns | 3.90ns |
4. 結論(Conclusion)
在功率 MOSFET 的選型與比較中,切換損耗預測始終充滿挑戰,因為:
- 規格書上參數高度依賴量測條件
- 不同廠商的定義與測試方法未必一致
然而,從這應用筆記顯示:
- 僅使用規格書上參數,即可合理預測 MOSFET 的相對切換速度
- 導停滯期間的電壓模型後,比較公平性與一致性進一步提升
對於設計初期、缺乏完整 SPICE 模型的情境,本方法能有效協助工程師做出更有依據的 MOSFET 選型決策。
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